| 번호 | 제목 |
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Structural reliability evaluation of low-k nanoporous dielectric interlayers integrated into microelectric devices 허규용, 브라이언 지원 리, 이호열, 최경근, 이문호 한국고분자학회 2016년 봄 학술대회 |
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n-Type Electrical Memory and Thin Film Morphology Controlled by Brush Polymer Bearing Perylene Diimide Moieties 김영용, 브라이언 지원 리, Makoto Kido, 고용기, Ryohei Ishige, Tomoyasu Hirai, 위동우, 김제한, 정유진, 김원종, Atsushi Takahara, 이문호 한국고분자학회 2016년 봄 학술대회 |
