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Enhanced Electrical Conductivity and Mechanical Bending Stability of Graphene-Contacted Cu Thin Films for Next-Generation Interconnects 조만규, 이효찬, 조길원 한국고분자학회 2018년 봄 학술대회 |
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Study of Ar plasma-treatment on Cu interconnect surface for Cu bonding in 3D integration 박만석, 김사라은경 한국재료학회 2013년 가을 학술대회 |
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Impermeable, Conductive, and Atom-thick Graphene Barriers 이태윤 한국재료학회 2012년 가을 학술대회 |
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Influence of H2/NH3 reactive gas ratio on CVD Co layer for Cu interconnect 박재형, 박종완, 문대용, 윤돈규 한국재료학회 2011년 가을 학술대회 |
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Effects of nitrogen reactive gas on PEALD TaNx diffusion barrier for Cu interconnect 박재형, 문대용, 한동석, 신새영, 박종완 한국재료학회 2011년 봄 학술대회 |
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Self-forming barrier process using PEALD Cu-Mn alloy for advanced Cu interconnect 문대용, 한동석, 박종완 한국재료학회 2010년 가을 학술대회 |
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Formation of TaNx diffusion barrier using plasma enhanced atomic layer deposition 문대용, 한동석, 김경택, 박종완 한국재료학회 2010년 봄 학술대회 |
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용액공정을 이용한 SiOC/SiO2 박막제조 김영희, 김수룡, 권우택, 이정현, 유용현, 김형순 한국재료학회 2009년 가을 학술대회 |
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Copper Electroless Deposition on Iridium and Tungsten for diffusion barrier of next generation IC chips 김영순, 조중희, M. A. Dar, 서형기, 김길성, 신형식 한국화학공학회 2004년 가을 학술대회 |