| 초록 |
그동안 방사광시설을 중심으로 다양한 X-선 기반 분석기법들이 개발되어 경쟁력있게 발전해 왔다. 특히 시료 위치에서의 X-선 세기의 획기적인 증가로, X-ray scattering, spectroscopy, imaging, microscopy, spectro-microscopy 등 다양한 기법으로 분리 발전되 왔으며, 각 기법은 결정구조, 국부적인 원자구조, 분자구조, 산화가, 화학적상태, 전자구조, 시편내외 미세형상, 등의 정보 제공에 활용되 오고 있다. 최근에는 다양한 환경과 in-situ 상태에서도 연구할 수 있는 기술 개발로, 신소재 개발, 소재 특성 발현 이해, 소자의 내부 결함, 구동에 따라 망가지는 원인 규명 등에 필요한 유용한 정보를 제공해 줌으로써 산업적인 측면에서의 활용도 활발하다. 한편, 3세대 원형방사광가속기 대비 시료에 한 단계 높은 수준의 세기로 X-선을 제공해 줄 수 있는 4세대 원형방사광가속기 건설이 추진되면, 방사광을 활용한 물성분석에서의 응용 분야 다양화와 한층 높아진 분석 경쟁력이 기대된다. 본 발표에서는 방사광 X-선 분석기법과 응용에 대해 소개하고자 한다. |
