화학공학소재연구정보센터
학회 한국재료학회
학술대회 2006년 봄 (05/19 ~ 05/20, 경상대학교 )
권호 12권 1호
발표분야 전자재료
제목 RIE(Reactive Ion Etching)에 의해 표면처리한 Cu/PI film의 접착특성
초록 본 연구에서는 금속/PI film의 접착특성에 미치는 oxygen RIE의 영향을 연구하였다. 상업적으로 사용되는 25 μm 두께의 Upilex-S PI film을 사용하여 250 eV의 ion energy에서 산소 ion dose 변화에 따라 RIE에 의해 PI film의 표면을 처리하였다. 표면처리된 PI film의 특성은 XPS, AFM, SEM 및 contact angle(접촉각)을 측정하여 조사하였다. 표면처리된 PI film에 tie layer NiFe(NiCr)(100Å)과 seed layer Cu(2000Å)로 구성된 금속박막을 D.C. magnetron sputtering을 이용하여 증착하고 이어서 전기도금에 의해 9 μm 두께의 Cu film을 형성시켰다. Pattering에 의해 3 mm 폭의 strip을 제조하여 peel strength를 측정하였다.
표면처리를 하지 않은 PI film의 접촉각은 증류수를 사용했을 때 68 °였으며, RIE에 의해 표면처리한 PI film의 접촉각은 산소 이온선량이 1x1016에서 1x1018로 증가함에 따라서 68 °에서 2 °까지 감소하였고 이에 따라서 PI film의 표면에너지는 표면처리에 의해 2배 이상 증가하였다. 표면처리한 PI film의 XPS 분석결과에 따르면 끊어진 불안정한 고분자 사슬들과 산소와의 반응에 의해 PI film표면에 functional group인 C-O 및 C=O bonding이 증가함을 나타내었다. 표면처리한 PI film은 증착된 금속박막간의 peel strength가 현저하게 증가하였으며, 이것은 친수성 그룹의 형성과 표면거칠기 증가에 따른 PI film의 표면에너지 증가에 기인한 것으로 생각된다.
저자 이욱재1, 김윤배1, 이우영2, 한준현1, 한승희1, 지광구1
소속 1한국과학기술(연), 2연세대
키워드 oxygen RIE; contact angle; functional group
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