Korean Industrial Chemistry News, Vol.10, No.2, 33-44, April, 2007
[나노기술 개발동향] 나노 박막 및 구조체의 물성측정기술에 대한 정보분석연구
R&D Trend and Information Analysis for Physical Property Measurement of Nano Thin Films and Nano Structured Materials
나노박막은 반도체, 디스플레이, 코팅 및 MEMS/NEMS 구조물들에 있어서 기본 구성 요소이기 때문에 그 중요성이 날로 더해가고 있다. 따라서 이들 산업 분야에서 경쟁력을 갖추기 위해서는 시행착오적인 생산 방식에서 탈피하여 다양한 물성 확보, 해석에 기초한 설계, 시제품 생산, 시험 평가, 재설계, 양산, 신뢰성 평가에 이르는 전 과정을 거쳐야한다. 박막 물성 평가법은 이와 같은 과정의 출발점에 위치해 있으며, 실제 구조물을 형성하고 있는 박막과 동일한 공정 및 크기로 시험편을 제작하여 설계에 필요한 물성 값들을 얻는 것이 이상적이다. 21 세기 국가경쟁력의 시금석이 될 나노기술에 필요한 측정기술은 대상체의 크기나 두께 등과 같은 물리적인 양을 측정하는 형상 측정기술과 물성 측정 등으로 구분할 수 있으며, 본 고에서는 특히 나노 박막 및 구조물의 기계적 물성 측정기술에 대한 연구개발동향과 정보분석을 중심으로 기술하였다.