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Fluorine-rich polymer gate dielectrics for highly stable organic field effect transistors(OFETs) against gate bias stress
김경훈, 안태규, 김지예, 박세열, 박찬언
한국고분자학회 2013년 봄 학술대회 |
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Cross-linked fluorinated polymer dielectric for enhanced stability of solution-processable organic field effect transistors(OFETs)
김지예, 안태규, 박선욱, 박찬언
한국고분자학회 2012년 가을 학술대회 |
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Post-annealing temperature effect of n-type organic semiconductor/polymer interface on its stability: Bias stress and interfacial-trap density of state
박지훈, 이희성, 이준영, 임성일
한국고분자학회 2012년 봄 학술대회 |
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Performance of Zn-based oxide thin film transistors with buried layers grown by atomic layer deposition
안철현, 이상렬, 조형균
한국재료학회 2012년 봄 학술대회 |
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Analysis of Carrier trapping of Hydroxyl group on OFET by using Gate bias stress
김지예, 김세현, 박미정, 박선욱, 박찬언
한국고분자학회 2011년 가을 학술대회 |
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Gate bias stress effect in organic field effect transistors for various functional groups of dielectric layer.
김지예, 김세현, 박미정, 박선욱, 박찬언
한국고분자학회 2011년 봄 학술대회 |
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Improvement in the bias stability of IGZO thin film transistors using Al2O3 buffer layer growth on Si3N4 dielectric layer
박주현, 방석환, 이승준, 고영빈, 최학영, 신석윤, 김지훈, 함기열, 이상헌, 전형탁
한국재료학회 2011년 가을 학술대회 |
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온도에 따른 a-IGZO TFT 소자 게이트 바이어스 스트레스 특성 연구
이명언, 이공수, 정한욱, 권석일, 최병덕
한국재료학회 2010년 봄 학술대회 |
