| 번호 | 제목 |
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Characteristic comparison of Be and Mg doped GaN grown using single GaN precursor Cunxu Gao, Fucheng Yu, Se Young Jeong, Dojin Kim, Chang-Soo Kim 한국재료학회 2006년 봄 학술대회 |
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Effects of Surface Energy and Roughness of Gate Dielectrics on OFET Characteristics 박찬언 한국화학공학회 2005년 봄 학술대회 |
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Laser Molecular Beam Epitaxy system에서 Reflection High Energy Electron Diffraction을 통한 BaTiO3/SrTiO3 산화물 인공격자의 성장과 구조적 분석|The growth and structural analysis of BaTiO3/SrTiO3 oxide artificial lattice by Laser Molecular Beam Epitaxy system combined Reflection High Energy Electron Diffraction 이창훈, 김이준, 전성진, 김주호, 최택집, 이재찬 한국재료학회 2003년 가을 학술대회 |
