| 번호 | 제목 |
|---|---|
| 3 |
양전자 소멸 측정법에 의한 실리콘에서의 구조 특성 이권희, 이종용 한국재료학회 2012년 가을 학술대회 |
| 2 |
양성자 조사 및 열처리 후의 GaN와 SiC의 micro-Raman spectroscopy를 이용한 특성변화 연구 김홍렬, 김지현 한국화학공학회 2011년 봄 학술대회 |
| 1 |
양전자 소멸 측정법에 의한 형광물질의 결함 연구 이종용, 권준현, 배석환 한국재료학회 2009년 가을 학술대회 |
| 번호 | 제목 |
|---|---|
| 3 |
양전자 소멸 측정법에 의한 실리콘에서의 구조 특성 이권희, 이종용 한국재료학회 2012년 가을 학술대회 |
| 2 |
양성자 조사 및 열처리 후의 GaN와 SiC의 micro-Raman spectroscopy를 이용한 특성변화 연구 김홍렬, 김지현 한국화학공학회 2011년 봄 학술대회 |
| 1 |
양전자 소멸 측정법에 의한 형광물질의 결함 연구 이종용, 권준현, 배석환 한국재료학회 2009년 가을 학술대회 |