| 번호 | 제목 |
|---|---|
| 2 |
온도에 따른 a-IGZO TFT 소자 게이트 바이어스 스트레스 특성 연구 이명언, 이공수, 정한욱, 권석일, 최병덕 한국재료학회 2010년 봄 학술대회 |
| 1 |
여러 가지 low-k 물질의 구리 배선 신뢰성|Cu metallization reliability in various low-k dielectrics 황상수, 이희찬, 정성엽, 주영창 한국재료학회 2004년 가을 학술대회 |
| 번호 | 제목 |
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| 2 |
온도에 따른 a-IGZO TFT 소자 게이트 바이어스 스트레스 특성 연구 이명언, 이공수, 정한욱, 권석일, 최병덕 한국재료학회 2010년 봄 학술대회 |
| 1 |
여러 가지 low-k 물질의 구리 배선 신뢰성|Cu metallization reliability in various low-k dielectrics 황상수, 이희찬, 정성엽, 주영창 한국재료학회 2004년 가을 학술대회 |