| 학회 |
한국고분자학회 |
| 학술대회 |
2008년 가을 (10/09 ~ 10/10, 일산킨텍스) |
| 권호 |
33권 2호 |
| 발표분야 |
고분자 구조 및 물성 |
| 제목 |
Confocal Micro-Raman Spectrometer를 이용한 고분자 필름의 Depth Profiling에 관한 연구 |
| 초록 |
Confocal Micro-Raman Spectrometer의 depth profiling 기능을 이용한 Raman 실험 방법은 물리적으로 단면을 절단하는 등 시료에 대한 특별한 전처리 없이 시료 표면으로부터 내부로 초점을 옮겨가면서 시료 내부 특정 부분에서의 스펙트럼을 간단히 얻을 수 있는 장점을 갖는다. 이와 같은 방법을 이용하면 시료 내부의 깊이에 따른 조성 및 구조 분석이 가능하여 고분자 필름 내에 존재하는 이물 분석이나 다층 구조의 고분자 필름의 구조 변화를 관찰할 수 있다. 하지만 필름의 표면 상태, 투과도, 굴절률 등이 시료의 depth resolution에 영향을 미칠 수 있기 때문에 depth profiling data를 정확하게 해석하기 위해서는 시료들의 상태 및 특성들이 depth profiling에 미치는 영향을 파악할 필요가 있다. 본 연구에서는 다양한 층의 다층 구조를 갖는 고분자 필름들을 이용하여 시료의 상태 및 광학 특성이 depth profiling에 미치는 영향을 확인하였다. |
| 저자 |
서인선, 송기국
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| 소속 |
경희대 |
| 키워드 |
Confocal Micro-Raman spectrometer; depth profile; polymer film
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| E-Mail |
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