| 학회 | 한국고분자학회 |
| 학술대회 | 2012년 가을 (10/11 ~ 10/12, 창원컨벤션센터) |
| 권호 | 37권 2호 |
| 발표분야 | 분자전자 부문위원회 |
| 제목 | Distinct Observation of Boundary Defects of Self-Assembled Monolayers and Their Effects on Pentacene Field-Effect Transistors |
| 초록 | 유기박막트랜지스터(organic field-effect transistors, OFETs)의 유기반도체층과 절연층 사이의 계면특성 향상을 위해 자기조립박막(self-assembled monolayers, SAM)을 이용한 무기절연체의 표면제어 연구가 활발히 진행되고 있다. 소자성능을 최적화시키기 위해서는 표면에서의 반응기, 분자구조, 결정성, 거칠기, 결함 등 SAM 표면구조를 이해하는 것이 중요하다. 대표적인 SAM 물질인 octadecyltrichlorosilane(ODTS)은 절연체 표면처리를 위해 널리 사용되고 있다. 본 연구에서는 ODTS 박막내의 분자사슬방향성에 따른 boundary 결함구조를 연구하였다. Boundary 결함구조를 확인하기 위해 표면 etching을 하였고 형성된 구조를 ODTS 성장구조와 비교하여 분석하였다. 실험결과 SAM의 boundary 구조는 박막내 결함으로 작용하여, 펜타센 결정구조 및 소자성능에 영향을 미치는 것을 확인하였다. |
| 저자 | 서은숙, 이정휘, 이화성 |
| 소속 | 한밭대 |
| 키워드 | Self-Assembled Monolayers; Pentacene Field-Effect Transistors; Boundary Defects |
