| 학회 |
한국재료학회 |
| 학술대회 |
2012년 가을 (11/07 ~ 11/09, 라카이샌드파인 리조트) |
| 권호 |
18권 2호 |
| 발표분야 |
A. 전자/반도체 재료(Electronic and Semiconductor Materials) |
| 제목 |
Thick film NTC Thermistor의 고온에이징 시 R(25)시정수 변화 메카니즘 분석 |
| 초록 |
이차전지 온도 모니터링용 Thick film NTC Thermistor가 개발되었다. 개발된 Thick film NTC Thermistor는 이차전지 응용으로 그 신뢰성이 확보되어야 한다. Thick film NTC Thermistor의 고온에이징 안정성을 확인하기 위하여 90도와 125도에서 실험을 수행하였다. 1,000시간 고온에이징 시험을 수행하였으며 100시간 내 0.3%의 R(25)시정수 변화를 나타내었다. 그리고 1,000시간 내 최대 0.8%의 R(25)시정수 변화를 나타내었다. 1,000시간 내 R(25)시정수 변화를 0.5%이내로 안정화시키기 위해 메카니즘을 분석하였으며 변화 원인을 분석하였다. |
| 저자 |
정재성1, 현대선1, 이충국2
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| 소속 |
1전자부품(연), 2래트론 |
| 키워드 |
Thick film NTC Thermistor; 메카니즘
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| E-Mail |
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