화학공학소재연구정보센터
학회 한국재료학회
학술대회 2016년 가을 (11/16 ~ 11/18, 경주 현대호텔)
권호 22권 2호
발표분야 A. 전자/반도체 재료 분과
제목 화학기상증착법를 사용한 ReS2의 성장 및 분석
초록   ReS2 대면적 성장을 주제로 한 실험의 목적은 반도체 대표적 물질인 실리콘을 대체를 위함이다. 실리콘에 비해 ReS2 물질은 Transition Metal Dichalcogenides (TMDs) 물질로써 우수한 강도와 신축성, 높은 빛 투과율 그리고 실리콘에 10배에 달하는 열 전도성, 전기전도성을 가지고 있어 미래의 반도체 대체 주요 물질로 손꼽히고 있다. 또한, 레이어 수에 관계없이 direct band gap 특성을 보이며, 물질 구조적 특성으로 인해 anisotropic 한 광학특성을 보인다.
본 실험은 보편적인 화학기상증착법(Chemical vapor deposition, CVD)를 이용하여 진행하였다. 상압에서 아르곤 베이스로 퍼니스 안의 환경을 조성하고 실험하였으며, 실험에는 one zone 퍼니스, Sulfur , Re 소스와 promoter가 코팅된 웨이퍼, Ar 가스를 주입할 가스투입기 등으로 실험 장치가 구성된다.
실험의 진행은 퍼니스 안의 유리기판에 녹인 Sulfur과  코팅 된 웨이퍼를 450 ~ 800°C의 온도 두고 진행하였고, 아르곤, 온도, promoter, Re 소스의 양과 비율을 조절하여 비교해 보았다. 이 후, 이를 분석하기 위해 optical microscopy, scanning electron beam microscopy(SEM), Raman spectroscopy 등을 이용하여 성장한 ReS2의 특성을 알아보았다.
저자 이중훈, 한성열, 유우종
소속 성균관대
키워드 Transition metal dichalcogenide; ReS<SUB>2</SUB>; Chemical vapor deposition
E-Mail