| 학회 | 한국공업화학회 |
| 학술대회 | 2009년 가을 (10/15 ~ 10/16, 서울산업대학교 내 서울테크노파크) |
| 권호 | 13권 2호 |
| 발표분야 | 교육-기능성 나노소재 개발을 위한 기기분석 원리 |
| 제목 | X선회절장치의 원리와 응용 |
| 초록 | 고분자 및 유, 무기재료 미세구조 분석과정에서 가장 폭넓게 쓰이는 X선 회절 방법의기본 원리와 장치개요 및 회절패턴의 해석에 대하여설명한다.심도 있는 구조분석을 위하여 회절현상의 근간이 되는 역격자 이론 및 회절조건에 대하여 간략히 설명하며, 시편의 제조 방법 및 측정과정에서의 변수등을 예를 들어 설명한다. 또한 최근 들어 나노구조등에 많이 사용되는 소각X선 산란방법, 스침각 X선산란방법 등에 대하여 간략히 소개한다. |
| 저자 | 권용구 |
| 소속 | 인하대 |
| 키워드 | X-ray; diffraction; scattering; reciprocal lattice |
