| 학회 |
한국고분자학회 |
| 학술대회 |
2004년 봄 (04/09 ~ 04/10, 고려대학교) |
| 권호 |
29권 1호, p.75 |
| 발표분야 |
고분자 구조 및 물성 |
| 제목 |
The investigation of depth profile of oxygen plasma treated LDPE using angle resolved and sputtering XPS |
| 초록 |
산소 플라즈마 처리 후 저밀도폴리에틸렌 표면에 도입된 산소계 관능기의 깊이에 따른 농도변화를 XPS를 이용한 정량 분석법을 통해 관찰하였다. 샘플과 XPS의 광전자 검출기 사이의 각도를 조정하여 각도에 따른 산소 1s peak의 세기 변화 함수를 얻어낸 후 이를 바탕으로 샘플의 깊이에 따른 농도 변화 함수를 계산해내었다. 또한 샘플의 표면을 일정 두께로 아르곤 이온빔을 이용하여 에칭해가면서 산소의 농도 변화를 관찰한 후, 위의 angle resolving 방법을 통해 얻어진 농도 변화 함수와 비교하였다. 이를 통해 산소 플라즈마를 통해 영향을 받는 두께를 예측할 수 있었으며, 플라즈마 처리 후 에이징 시간에 따른 저밀도폴리에틸렌 표면에서의 농도 함수 변화를 관찰함으로써 고분자 표면에서 일어나는 친수성기의 벌크내부로의 분산을 확인할 수 있었다. 특히 서로 다른 결정화도를 가진 저밀도폴리에틸렌을 제조하여 산소 플라즈마 처리에 의한 영향과 에이징 시간에 따른 산소의 깊이에 따른 농도 변화를 비교 분석하였다. |
| 저자 |
김광수, 박찬언
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| 소속 |
포항공과대 |
| 키워드 |
plasma; XPS; depth profiling
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| E-Mail |
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