| 학회 | 한국화학공학회 |
| 학술대회 | 2002년 가을 (10/24 ~ 10/26, 서울대학교) |
| 권호 | 8권 2호, p.2305 |
| 발표분야 | 공업화학 |
| 제목 | AFM을 이용한 고분자 나노 구조의 계면 현상 및 특성 |
| 초록 | One can determine the local functional group distribution and the reaction conversions of a surface modification reaction on a microscopic scale using AFM with chemical specificity. Furthermore, with chemically specific lateral force imaging, mapping of the distribution of reacted (and unreacted) functional groups on a microscopic scale during the reaction process can be possible. |
| 저자 | 박영준, 김중현 |
| 소속 | 연세대 |
| 키워드 | Atomic Force Microscopy; Polymer |
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| 원문파일 | 초록 보기 |
