| 초록 |
고분자 물질의 표면 및 계면 특성은 표면에 있는 고분자 사슬의 mobility, conformation, packing 등 구조적 특성과 밀접한 관계가 있으며, 고분자의 결정 구조의 표면 배향상태에 크게 영향을 받는 것으로 알려져 있다. 최근, 고분자 박막에서의 사슬구조나 결정배향특성이 bulk 상태와는 매우 다르다는 연구 결과가 보고되고 있다. 그러므로 고분자 박막의 특성을 정확하게 이해하기 위하여서는 박막 내에서의 사슬구조 및 결정배향특성에 영향을 미치는 인자에 대한 이해가 선행되어야 한다. 본 연구에서는 RA-FTIR, XRD 및 AFM 방법을 이용하여 HDPE 박막 내에서 형성되는 lamella의 배향상태에 대한 분석이 진행되었다. Dip coater를 이용하여 gold-coated silicon wafer위에 20~270nm 두께의 HDPE thin film을 제작하였다. Polarized RA-FTIR와 GIXRD및 AFM결과로부터 HDPE thin film 내의 lamella결정의 배향상태에 관한 정보를 얻을 수 있었다. Bulk 상태에서와는 다르게, 박막내의 lamella 결정의 배향은 계면과 밀접한 관계가 있음을 알 수 있었으며, 결정의 용융거동이나 결정화 거동이 박막의 두께에 매우 민감하게 영향을 받고 있음을 확인할 수 있었다. |
