화학공학소재연구정보센터
학회 한국재료학회
학술대회 2019년 가을 (10/30 ~ 11/01, 삼척 쏠비치 호텔&리조트)
권호 25권 2호
발표분야 F. 광기능/디스플레이 재료 분과
제목 Oxygen-pressure Controlled Rapid Thermal Annealing을 통한 스퍼터링 ITZO (Indium-Tin-Zin-Oxide) TFT (Thin Film Transistor) 제작 및 전기적 특성 향상 연구
초록 비정질 산화물 반도체 박막 트렌지스터는 대화면, 고해상도 디스플레이를 위한 스위칭 장치로서 각광받고 있다. 일반적으로 사용되는 산화물 반도체는 IGZO(Indium-Gallium-Zinc-Oxide)로, 비정질 실리콘과 비교하여 높은 균일 성, 높은 이동도, 낮은 오프 전류, 높은 투명성과 같은 장점을 가지고 있다. 그러나, IGZO TFT의 이동도는 일반적으로 약 10 cm2 / V로 제한되기 때문에, 이동도를 개선시키기 위한 산화물 반도체 연구가 꾸준히 진행되고 있다. 그 중 ITZO (Indium-Tin-Zinc-Oxide) TFT는 이동도가 2배 증가된 산화물 반도체로 제안되었다. 또한, RTA (Rapid Thermal Annealing) 공정은 furnace나 oven에 비해서 상대적으로 짧은 공정시간을 동안에 ITZO 산화물 박막의 전기적 특성을 효과적으로 활성화시켜 장치 성능을 향상시킬 수 있다. 본 실험에서는 SiO2/Si 기판 위에 ITZO 물질을 스퍼터링하여 박막을 성장시킨 후 RTA 공정에서 산소를 주입함과 동시에 챔버 압력을 조절하며 어닐링을 진행하였다. RTA 공정에서 산소 분자가 ITZO 층으로 확산되어 캐리어 농도를 조절하고 ITZO TFT의 전기적 특성에 영향을 미치는 것을 확인하였으며 특성을 분석하였다.
저자 맹서현, 김재균
소속 한양대
키워드 Thin Film Transistor; ITZO; Rapid Thermal Annealing
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