화학공학소재연구정보센터
학회 한국화학공학회
학술대회 2003년 봄 (04/25 ~ 04/26, 순천대학교)
권호 9권 1호, p.976
발표분야 재료
제목 기능성 Slurry를 이용한 미래 CMP 공정 기술 개발
초록 초고집적소자를 제조하는 반도체 제조에 있어 초점심도 관점에서의 평탄화와, 구조제작 관점에서의 평탄화라는 요구조건을 만족시키는 공정기법이 바로 화학기계적 평탄화 (Chemical Mechanical Planarization; 이하 CMP) 이다. CMP 기술은 1980년대에 IBM이 고청정도를 생명으로 하는 반도체 제조 공정에 도입한 이래, 현재는 국내를 비롯하여 세계적으로 차세대 디바이스의 개발과 양산을 위해 없어서는 안 될 공정으로 각광 받으며 활발한 연구가 진행되고 있다. CMP기술은 고도의 평탄화를 이루어주는 기술이며, 향후 반도체 소자제조 공정의 핵심기술로서 그 사용 범위를 급격히 증대하고 있다. 미래의 CMP 공정은 미세 패턴 형성 시 초점심도 확보를 위한 산화막 평탄화는 물론, 현재보다 더욱 다양한 소재들의 연마를 가능케 하는 다양한 슬러리가 디바이스 제조 기법상의 자유도를 높여주어 더욱 복잡한 구조의 초고집적소자를 제작하는데 사용되는 예가 증가할 것으로 예상된다.
본 연구에서는 CMP를 이용한 새로운 초고집적소자 구조 형성에 있어 CMP Slurry의 기능 및 역할과 새로운 물질을 이용한 초고집적소자의 구조 형성을 가능하게 하는 Slurry 개발 사례를 보임으로써 CMP Slurry의 향 후 개발 방향을 제시하고자 한다.
저자 이상익, 박형순, 신종한, 김창일, 정종구, 송서영
소속 하이닉스반도체 메모리(연)
키워드 CMP(Chemical Mechanical Planarization); 평탄화; Slurry
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